index - Equipe NIMPH du CIMAP - Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique

Bienvenue sur la collection de l'équipe Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique (NIMPH) du laboratoire CIMAP

L'équipe NIMPH est impliquée dans l’étude des nanomatériaux, des ions et des métamatériaux avec pour objectif le développement de structures en couches minces présentant des caractéristiques innovantes dans les domaines de la microélectronique, de la photonique et de l'énergie.

Fichiers

202

 

 

Notices

236

 

 

Nous contacter

Référent HAL de l'équipe :
M. Julien Cardin
Tél. 02 31 45 26 64
julien.cardin@ensicaen.fr

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Mots clés

RF magnetron sputtering Oxide materials Optical properties Fluorescence Nanostructured materials Infrared absorption Nanoparticles Friction Oxide interface Matériaux hybrides Nanostructuring Epitaxy Hafnium silicate Neodymium High-k dielectrics Sputtering Rare-earth ions Waveguides Oxides Conductivity Si nanocluster Silicon photonics Photovoltaic Rare earths Microstructure physique AFM GENOMIQUE Energy transfer IR spectroscopy Hybrid materials Microstructure Nanostructures Nanoparticules Hafnium silicates Terres rares Multilayers M-lines Lifetime Waveguide ADE-FDTD Pulsed laser deposition Irradiation Quantum-well Doping Optical amplifiers Luminescence Rare earth Silicon nanocrystals Copper Cathodoluminescence Guide d'onde Electron paramagnetic resonance Laser pyrolysis Atom probe tomography Si-rich silicon oxide Silicium PZT Semiconductors Couches minces Couches minces semi-conductrices XRD Reactive magnetron sputtering Silicon nitride Erbium Thin film Silicon Silicon nanoclusters Pulvérisation cathodique MoS2 CO adsorption Hillocks Liposomes Cerium Down-conversion Pulvérisation magnétron radiofréquence Magnetron sputtering Citric acid Computational electromagnetic methods Radiofrequency magnetron sputtering Structural properties SiC Nanostructure Refractive index Oxygen vacancies HR STEM-HAADF Raman scattering Photoluminescence Films Raman Thin films CoMoS Feature erasure Crystal structure Microstructure physics FTIR Grazing incidence X-ray diffraction Terbium Phase transition Electroluminescence Al2O3